利用掃描電鏡法測定超濾膜底表面上總孔面積與該底總表面積之比,再結合哈根——泊肅葉定律來推算超濾膜皮層的平均孔徑。這樣所得的超濾膜平均孔徑比起原先單獨使用掃描電鏡法或哈根—泊肅葉法,可以更客觀地反映超濾膜的實際參數。