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HORIBA參加中國汽車測試及質量監控博覽會 (Automotive Testing Expo 2007 China) (2007/09/12)

信息發布：日本堀場株式會社 發布時間：2008-10-6 瀏覽次數：次

　　HORIBA ATS參加 2007中國汽車測試及質量監控博覽會

　　Automotive Testing Expo 2007 China

地址：上海光大會展中心（中國上海漕寶路70號C棟6）

        日期：9月12-14日

        展位：西館3樓1040號

        HORIBA于2007年9月12日-14日在上海光大會展中心參加的“2007汽車測試及質量監控博覽會”已圓滿落下帷幕。這次的展會不僅為 HORIBA提供了一個展示公司自我創新和發展的舞臺，同時也向廣大的中國消費者開啟了一扇了解全球尖端汽車分析和測量技術的窗口。在為期三天的參展時間里，有上千人蒞臨了我們的展位，并與我方相關人員就最新的產品和技術進行了交流。HORIBA也有信心正在日漸成熟的市場環境里不斷進步，再創佳績！
（所有照片攝于展會現場）

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